M系列M2LR防爆露点变送器-HygroPro II 露点变送器-Panametrics巴纳氧化铝原理
Panametrics M系列防爆低湿露点变送器 M2LR -Panametrics巴纳氧化铝原理
M系列探头具有的氧化层薄膜厚度使得其显示真正的绝对湿度，而不是相对湿度响应，同时使得温度与滞后的影响降至很低。使用M系列氧化铝水份探头再气体与液体中直接测量水的蒸汽压非常便利与有效。该探头经过一系列特殊工艺阳极电镀使铝基表面产生多孔氧化层并形成极薄金镀层，铝基与金镀层形成两个电极，整个结构成为一个氧化铝电容。水汽平衡分布于氧化铝孔隙壁上，每个孔隙壁的电阻值提供了与水蒸汽压成函数关系的阻抗，可测量气体和液体中的水份含量。
M_Series-Panametrics氧化铝水分探头设定工业水分测量的性能和价值标准已有40多年。使用时，M 系列水分探头通过一根内连电缆连接在Panametrics湿度仪控制台上。
Panametrics制造的传感器，其氧化膜的厚度易用性、宽广的测量范围以及严格的校准标准使得这些系统在成为工业水分测量的优先选择。
优越的性能氧化物层的薄膜厚度对这种传感器的性能起着关键作用。
M2LR+MTS6显示器 M2LR+PM880便携式露点仪
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本安 本质安全，当连接在 Panametrics水分系列分析仪、PM880 便携式湿度计或本质安全栅时 根据用户手册要求。 M系列水分探头： BAS01ATEX1096X II 1 G EEx ia IIC T4 (-20°C ~ +80°C)，及 CSA C US I类1区 A、B、C&D、T4组， LR44204-23 符合欧洲标准 符合EMC指令89/336/EEC和 PED 97/23/EC (DN<25) 类型 氧化铝水分传感器 校准 每个探头都是由计算机单独校准，根据 已知水分浓度，可溯源至NIST或 NPL。 露点/霜点校准范围 • 整体性能：140°F ~ -166°F (60°C ~ –110°C) （根据要求） •标准校准范围：68°F ~ -112°F (20°C~–80°C) 数据达 -166°F (-110°C) •超低校准范围：-58°F ~ -148°F (-50°C~-100°C) 数据达 -166°F (-110°C) 准确度 • ±3.6°F (±2°C)范围介于 140°F ~ -85°F (60°C to –65°C)之间 • ±5.4°F (±3°C)范围介于 -86°F ~ -166°F之间 (-66°C ~ 110°C) 重复性 • ±0.9°F (±0.5°C)范围介于140°F ~ -85°F之间 (60°C ~ -65°C) • ±1.8°F (±1.0°C) 范围介于-86°F ~ -166°F之间 (-66°C ~ -110°C) |
温度 • 工作温度：-166°F ~158°F (–110°C ~ 70°C) • 存储：zui高 158°F (70°C) 工作压力(取决于安装方式) • 法兰工艺连接件 (M1): 5 :Hg 至75 psi表压 (6 bar) • 螺纹工艺连接件 (M2): 5 :Hg 至5000 psi表压 (345 bar) 流量范围 • 气体：1个标准大气压下，从静态到10,000 cm/s的线速度 • 液体：从静态到10 cm/s的线速度，密度为 1 g/cc 响应时间 不到五秒(含湿量发生63%的阶跃变化时， 加湿或烘干周期内) 输入电压 1 VAC, 77 Hz 阻抗范围 50 kS 到 2 MS，取决于水蒸气 有限质保 •校准：六个月（从交货算起） • 材料和制作工艺：一年（从交货算起） 可选温度传感器 类型 非线性负温度 系数 (NTC)热敏电阻(合成温度 由微处理器线性化) 操作范围 –22°F ~ 158°F (–30°C ~ 70°C) 准确度 整体准确度±0.9°F (±0.5°C) 响应时间（zui长） 充分搅拌的油中需1秒，或静止空气中需10秒 （发生63%的阶跃变化，升温或降 温时） |
Panametrics 的核心是过程工业测量。Panametrics 品牌仪器为水分、氧气和氢气分析以及超声波流量测量提供解决方案。Panametrics 的仪器可用于流量、气体、水分和湿度应用。
Panametrics 便携式和固定式氧化铝湿度计可测量气体和液体中的痕量水分。Panametrics 气体分析仪利用许多现代技术用于许多应用。Panametrics 便携式和固定安装式时差超声波流量计可通过外夹式或湿式传感器应用于液体、气体和蒸汽。